微镜科技认领

采用的全部是美国进口Fei高端场发射电镜，可以满足企事业单位和高校等的各项科研工作。FEI进口电镜，十年经验，技术精湛，SEM二次电子探头可看形貌，大小，分布。背散射可以看材料衬度像。STEM可看极小纳米粒及分布，EDS Mapping可观面分布。双束高分辨TEM制样，原位STEM观测，微样切割。